Harbor-Halbleiter

Multifunktionales Positronenspektrometer HS-POS

HS-POS ist ein multifunktionales System zur Materialcharakterisierung, das fortschrittliche Positronen-Annihilations-Technologie mit Dual-Mode-Positronen-Annihilations-Lebensdauer-Spektroskopie (PALS) und Doppler Conformal Breadth Spectroscopy (CDBS) integriert und zerstörungsfreie Sub-Nanometer-Defekt- und Elektronenstruktur-Analysen für die Materialwissenschaft, die physikalische Chemie und die Technik ermöglicht.

Einzelheiten zum Produkt

Positronen-Annihilations-Lebensdauer-Spektrum (PALS)
Präzise Messung der Annihilationslebensdauer von Positronen in Materialien (~100 ps-10 ns) und quantitative Charakterisierung der Konzentration, Größe und Verteilung von Defekten des Typs Leerstellen (einzelne Leerstellen, Leerstellencluster, Mikroporen). Anwendbar auf ein breites Spektrum von Systemen, einschließlich kristalliner, amorpher, polymerer und Nanomaterialien mit einer Auflösung im Sub-Nanometerbereich. Kompatibel mit dem Doppler-Spreizspektrum (CDBS)
Durch die konforme Messtechnik mit zwei Detektoren wird das Energieverbreiterungsspektrum der Annihilationsphotonen mit hohem Signal-Rausch-Verhältnis erhalten, und die elektronische Impulsverteilung in der Nähe des Fermi-Energieniveaus des Materials wird aufgelöst. Elementspezifische Defekte (z. B. Verunreinigungs-Leerstandskomplexe) können identifiziert werden, was eine hochempfindliche Erkennung der chemischen Umgebung und der elektronischen Struktur ermöglicht.

Halbleitermaterialien: Bestrahlungsdefekte in Wafern, Analyse des Dotierstoff-Vakanz-Komplexes, Charakterisierung von Grenzflächendefekten in Leistungsgeräten.
Metalle und Legierungen: Untersuchung des Mechanismus der durch Ermüdung/Bestrahlung/Verformung verursachten Leerstellenentwicklung, Frühdiagnose von Kriechschäden in Hochtemperaturlegierungen.
Energiematerialien: Lithium-Ionen-Einbettungsdefekte in Elektrodenmaterialien für Lithium-Ionen-Batterien, Überwachung des Verhaltens von Heliumblasen in Materialien für Fusionsreaktoren (z. B. Wolfram).
Nano- und poröse Materialien: Größenverteilung von Nanopartikeln und Analyse der aktiven Oberflächenstellen.
Polymere und Biomaterialien: Verfolgung des mikroskopischen Alterungsprozesses von biologisch abbaubaren Materialien.

Zeitauflösung: Zeitauflösung der Lebensdauermessung ≤155ps (Co-60 Transientenpeak, Na-22 Fensterbedingung FWHM).

Energieauflösung des Detektors: Lebensdauermessung (Na-22-Quelle): ≤12% (1,275 MeV Peak); hochreiner Germaniumdetektor (Co-60-Quelle): ≤1,90keV (1,332 MeV Peak).

Datenerfassungsleistung: Zeitabtastrate der Lebensmessung ≥ 5G / SPS; Amplitudenauflösung ≥ 14 Bit; Zählrate der Lebensmessung ≥ 100cps; Effizienz des hochreinen Germanium-Detektors: ≥ 25%.

Automatisierter Prozess: Mit einem Tastendruck wird ein vollautomatischer Messprozess gestartet, das System wählt auf intelligente Weise die besten Parameter aus und führt eine automatische Kalibrierung durch.

Spektralstabilität: Echtzeitkorrektur der Energiespektrumsdrift bei Langzeitmessungen, verifiziert durch eine radioaktive Co-60-Quelle (1,332MeV Peak), Driftrate ≤ 0,01%/h.

Multimodus-Anzeigesystem: unterstützt die Umschaltung zwischen linearem und logarithmischem Koordinatensystem; kann Energiespektren mit zwei Detektoren unabhängig voneinander anzeigen und Energiespektren und Lebensdauerspektren in der Mehrfensteransicht synchron anzeigen.

Intelligente Spektrumsanalysefunktion: vollständige Aufzeichnung von Spektrumsinformationen (Startzeit, Messdauer, Totzeit, Gesamtzählungen); genaue Einstellung der ROI-Grenzen, automatische Peak-Suche und Berechnung der Peak-Position, halben Höhe und vollen Breite sowie der ROI-Fläche; basierend auf dem Gaußschen Anpassungsalgorithmus zur Lösung der Peak-Parameter.

Materialdefekt- und Freivolumenanalyse: Unterstützt die Messung der Defektzustandserfassungsrate für Metall-/Halbleitermaterialien und die Charakterisierung des Radius des freien Volumens und des Anteils des freien Volumens für Polymere.

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