Спектр времени жизни позитронной аннигиляции (PALS)
Точное измерение времени жизни аннигиляции позитронов в материалах (~100 пс-10 нс) и количественная характеристика концентрации, размера и распределения дефектов вакансионного типа (одиночные вакансии, кластеры вакансий, микропоры). Применим к широкому спектру систем, включая кристаллические, аморфные, полимерные и наноматериалы с субнанометровым разрешением. Совместим с доплеровским спектром (CDBS)
С помощью двухдетекторного конформного метода измерения получен спектр расширения энергии аннигиляционных фотонов с высоким соотношением сигнал/шум и разрешено распределение электронного импульса вблизи энергетического уровня Ферми материала. Можно идентифицировать дефекты, специфичные для конкретного элемента (например, комплексы примесь-вакансия), что позволяет с высокой чувствительностью определять химическое окружение и электронную структуру.

Полупроводниковые материалы: облучательные дефекты в пластинах, анализ комплекса легирующих вакансий, характеристика межфазных дефектов в силовых приборах.
Металлы и сплавы: исследование механизма эволюции вакансий, вызванных усталостью/облучением/деформацией, ранняя диагностика повреждений при ползучести в высокотемпературных сплавах.
Энергетические материалы: дефекты встраивания/выстраивания ионов лития в электродные материалы для литий-ионных аккумуляторов, мониторинг поведения гелиевых пузырьков в материалах термоядерных реакторов (например, в вольфраме).
Нано- и пористые материалы: распределение наночастиц по размерам и анализ поверхностных активных сайтов.
Полимеры и биоматериалы: отслеживание микроскопического процесса старения биоразлагаемых материалов.

Временное разрешение: временное разрешение измерения времени жизни ≤155 с (пик переходного процесса Co-60, FWHM состояния окна Na-22).

Энергетическое разрешение детектора: измерение времени жизни (источник Na-22): ≤12% (пик 1,275 МэВ); германиевый детектор высокой чистоты (источник Co-60): ≤1,90кэВ (пик 1,332 МэВ).

Характеристики сбора данных: частота дискретизации времени измерения жизни ≥ 5G / SPS; амплитудное разрешение ≥ 14 бит; скорость счета измерения жизни ≥ 100cps; эффективность детектора из высокочистого германия: ≥ 25%.

Автоматизированный процесс: одним нажатием кнопки запускается полностью автоматизированный процесс измерения, система интеллектуально подбирает оптимальные параметры и выполняет автоматическую калибровку.

Спектральная стабильность: коррекция в реальном времени дрейфа энергетического спектра при длительных измерениях, проверенная с помощью радиоактивного источника Co-60 (пик 1,332 МэВ), скорость дрейфа ≤ 0,01%/ч.

Многорежимная система отображения: поддерживает переключение линейной/логарифмической системы координат; может независимо отображать энергетические спектры двух детекторов и синхронно отображать энергетические спектры и спектры времени жизни в многооконном режиме.

Интеллектуальная функция анализа спектра: полная запись информации о спектре (время начала, продолжительность измерения, мертвое время, общее количество отсчетов); точная установка границ ROI, автоматический поиск пика и расчет положения пика, полувысоты и полной ширины, а также площади ROI; на основе алгоритма подгонки Гаусса для решения параметров пика.

Анализ дефектов и свободных объемов материалов: поддерживает измерения скорости захвата дефектных состояний для металлических/полупроводниковых материалов, а также определение радиуса свободного объема и доли свободного объема полимеров.